

	Главная Патентный отдел Технологии Справочник ГРНТИ Прием Наши координаты Обратная связь

Поиск патентов

Оформить заказ и задать интересующие Вас вопросы Вы можете напрямую c 6-00 до 14-30 по московскому времени кроме сб, вс. whatsapp 8-950-950-9888

Патентный отдел

На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента

Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»

Вернуться к списку

СПОСОБ БЕСКОНТАКТНОГО ИЗМЕРЕНИЯ НАНОВИБРАЦИЙ ПОВЕРХНОСТИ

Номер публикации патента: 2461803

Вид документа:	C1
Страна публикации:	RU
Рег. номер заявки:	2011101227/28

Получить полное описание патента

Редакция МПК:	6
Основные коды МПК:	G01H009/00 H01S003/08
Аналоги изобретения:	RU 2300085 C1, 27.05.2007. RU 2029251 C1, 20.02.1995. JP 61198027 A, 02.09.1986. RU 2020430 C1, 30.09.1994. EP 1310801 A1, 14.05.2003.

Имя заявителя:	Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Саратовский государственный университет им. Н.Г. Чернышевского" (RU)
Изобретатели:	Акчурин Гариф Газифович (RU)
Патентообладатели:	Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Саратовский государственный университет им. Н.Г. Чернышевского" (RU)

Реферат

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники. В способе в качестве излучателя используют гелий-неоновый активный элемент, оптимизированный для получения лазерного излучения на длине волны 3.39 мкм и помещенный в полуконфокальный резонатор с двумя отражающими поверхностями. Радиус кривизны поверхности вогнутого зеркала соизмерим с удвоенной длиной активного элемента. В качестве второй отражающей поверхности резонатора используется исследуемая поверхность. Ось резонатора юстируют перпендикулярно исследуемой поверхности до возникновения генерации и получения ее максимального значения, перестраивают длину резонатора при сканировании сферического зеркала в пределах длины волны и измеряют значение выходной лазерной мощности. Длину резонатора настраивают на линейный участок зависимости лазерной мощности от длины резонатора и измеряют переменную составляющую лазерной мощности, пропорциональной колебаниям поверхности. Анализируют переменную составляющую фотодетектора и с помощью Фурье или Вейвлет преобразования определяют амплитуды и частоты колебаний исследуемой поверхности. Технический результат заключается в расширении частотного диапазона измеряемых амплитуд нановибраций и в обеспечении возможности проведения бесконтактного измерения абсолютных динамических смещений зондируемой поверхности с микронным пространственным разрешением. 2 ил.

Вернуться к списку

Дирекция сайта "Промышленная Сибирь"
Россия, г.Омск, ул.Учебная, 199-Б, к.408А
Сайт открыт 01.11.2000
© 2000-2018 Промышленная Сибирь

Разработка дизайна сайта:
Дизайн-студия "RayStudio"