|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ КОЛЕБАНИЙ |  |
Номер публикации патента: 2097710 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01H001/08 | | Аналоги изобретения: | Харкевич А.А. Спектры и анализ. - М.: Государственное издательство физико-математической литературы, 1962, с. 236. SU, авторское свидетельство, 712284, кл. G 01 H 3/04, 1978. SU, авторское свидетельство, 1262295, кл. G 01 H 9/00, 1989. SU, авторское свидетельство, 410327, кл. G 01 P 23/16, 1967. |
| Имя заявителя: | Саратовский государственный университет им.Н.Г.Чернышевского | | Изобретатели: | Усанов Д.А.
Скрипаль А.В.
Вагарин В.А. | | Патентообладатели: | Саратовский государственный университет им.Н.Г.Чернышевского |
Реферат | |
Использование: область оптической виброметрии. Сущность изобретения: в способе исследования колебаний, при котором направляют излучение источника на исследуемый объект, формируют сигнал из сдвинутых по фазе волн, опорной и отраженной от исследуемого объекта, измеряют спектр выходного сигнала, по нескольким фиксированным значениям амплитуд гармоник судят об исследуемом объекте, при формировании сигнала изменяют расстояние между источником и исследуемым объектом, изменяя соответственно величину сдвига фаз, спектр сигнала снимают при каждом изменении расстояния, фиксируя в каждом из них гармонику с максимальной амплитудой и соответствующую ей частоту, выбирают среди них частоты с минимальным и максимальным значениями и о колебаниях судят по предложенным соотношениям. Кроме того, при формировании сигнала задают изменение расстояния между источником и исследуемым объектом в пределах значений больших λ/2 и определяют амплитуду колебаний. Кроме того, строят экспериментальные зависимости, по которым судят о величине глубины модуляции колебаний объекта второй гармоникой и амплитуды второй гармоники. 2 з. п. ф-лы, 3 ил., 1 табл.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента