|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВЕННЫХ И КОЛИЧЕСТВЕННЫХ ПАРАМЕТРОВ ЖЕЛЕЗОРУДНОГО МАТЕРИАЛА В КУЗОВЕ ТРАНСПОРТНОГО СРЕДСТВА |  |
Номер публикации патента: 2064664 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01F017/00 | | Аналоги изобретения: | 1. Ю.И.Кудрявцев. Индукционные методы измерения магнитной воспри- имчивости горных пород и руд в естественных условиях. Л.: "Недра", 1978, с. 117-159. 2. Авторское свидетельство СССР N 1505205, кл. G 01Р 33/12, 1986. |
| Имя заявителя: | Институт горного дела | | Изобретатели: | Гальянов А.В.
Леликова Н.А.
Лазарев Л.А.
Хаснулин М.Г.
Шиколев В.А. | | Патентообладатели: | Институт горного дела |
Реферат | |
Использование: для измерения качественных и количественных параметров железорудного сырья в кузове транспортных средств. Сущность изобретения: способ предназначен для измерения качественных и количественных параметров железорудного сырья в кузове транспортных средств. Цель изобретения - расширение функциональных возможностей известных способов контроля качественных характеристик железорудного материала в кузове транспортных средств. С помощью зондового устройства с двумя индукционными зондами различной длины определяют кажущуюся магнитную восприимчивость материала. Кроме того, измеряют этим устройством минимальное расстояние от устройства до поверхности железорудного материала, находящегося в кузове. Затем расчетным путем определяют объем V материала, находящегося в кузове, по формуле  , где Vo - паспортный объем кузова транспортного средства; В - ширина кузова; Д - длина кузова; v - угол естественного откоса железорудного материала; hmin - минимальное расстояние от зондового устройства до поверхности материала, находящегося в кузове; ho - минимальное расстояние от зондового устройства до поверхности материала предельно загруженного кузова. 2 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента