|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ РАССТОЯНИЯ ДО ИСТОЧНИКА ИЗЛУЧЕНИЯ |  |
Номер публикации патента: 2179707 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01C003/00 G02B027/42 G02B005/18 G01D005/34 G01D005/38 | | Аналоги изобретения: | US 4218615, 19.08.1980. GB 2241780 А, 11.09.1991. US 5671050, 23.09.1997. US 4299489, 10.11.1981. US 5786896, 28.07.1998. US 5703675, 30.12.1997. US 4629886, 16.12.1986. US 5838000, 17.11.1998. FR 2667679 А, 10.04.1992. |
| Имя заявителя: | Общество с ограниченной ответственностью "Инсмат Технология" | | Изобретатели: | Щетников А.А.
Ашкиназий Я.М.
Чеглаков А.В.
Федоров Е.Н. | | Патентообладатели: | Общество с ограниченной ответственностью "Инсмат Технология" |
Реферат | |
Изобретение относится к области оптических измерений и может быть использовано для измерения расстояния до излучающего объекта, в частности для определения расстояния до точечного источника света. Способ определения расстояния до источника S0 (S1) излучения включает формирование изображения S0 1 (S1 1) источника излучения с помощью оптической системы и сопоставление этого изображения S0 1 (S1 1) с заранее известной зависимостью функции отклика этой оптической системы от расстояния до источника S0 (S1) излучения. При этом отклик оптической системы модифицируют посредством установленной в ходе лучей амплитудно-фазовой маски, которую формируют с возможностью отклонения этих лучей в направлении, преимущественно ортогональном направлению отклонения лучей, вызываемому дефокусировкой, а при сопоставлении этого изображения S0 1 (S1 1) с указанной функцией отклика оценивают угол поворота изображения S0 1 (S1 1) источника S0 (S1) излучения. Оптимально, чтобы коэффициент пропускания амплитудно-фазовой маски был задан в виде периодической функции от угла поворота. В этом случае при оценке угла поворота определяют изменение фазы сигнала формируемого изображения S0 1 (S1 1) источника S0 (S1) излучения. Технический результат - повышение точности и экономичности измерений за счет возможности оценивания расстояния до любой точки поверхности объекта и восстановления его формы по одному снимку изображения излучающего объекта. 1 з. п. ф-лы, 4 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента