|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ЛИНЕЙНЫХ ПЕРЕМЕЩЕНИЙ (ВАРИАНТЫ) |  |
Номер публикации патента: 2127865 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01B007/00 G01D005/20 | | Аналоги изобретения: | Агейкин Д.И. и др. Датчики контроля и регулирования. Справочные материалы. 2-е перераб. и доп. Изд. - М.: Машиностроение, 1965, с.126. US 5210490 A, 11.05.93. DE 3929681 A1, 14.03.91. SU 1605137 A1, 07.11.90. SU 237643 A, 12.02.69. SU 855378 A, 15.08.81. DE 3214529 A1, 20.10.83. GB 1559091 A, 16.01.80. GB 2000298 A, 04.01.79. |
| Имя заявителя: | Медников Феликс Матвеевич | | Изобретатели: | Медников Ф.М.
Нечаевский М.Л. | | Патентообладатели: | Медников Феликс Матвеевич |
Реферат | |
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в машиностроении при испытании конструкций, управлении технологическими процессами и т.д. Устройство содержит первичный преобразователь и три операционных усилителя. Первичный преобразователь состоит из подвижного элемента, двух коаксиальных сердечников, измерительной обмотки, расположенной на центральном сердечнике, и дополнительной обмотки. Дополнительная обмотка равномерно распределена по периметру одного из сердечников так, что ее витки охватывают его в продольном направлении, и выполнена двухсекционной. За счет соединения обмоток и операционных усилителей, которое эквивалентно включению измерительной обмотки одновременно по логометрической схеме с первой секцией дополнительной обмотки (компенсация мультипликативной составляющей погрешности измерений) и встречно с второй секцией дополнительной обмотки (компенсация аддитивной составляющей), повышается точность измерений. В устройство может быть введен четвертый операционный усилитель, выходной сигнал которого используется для компенсации температурной погрешности. 2 с. и 10 з.п. ф-лы, 5 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента