|
В данном разделе представлены Рефераты российских патентных документов.
Здесь Вы можете провести патентный анализ, а также приобрести полный комплект документов по патенту. Стоимость 1 патента — 150 руб. (НДС не облагается).
Поиск информации осуществляется посредством определения соответствующих критериев поиска в форме "Поиск патентов"
Патенты, представленные в данном разделе, классифицированы с использованием классификатора МПК (Международный патентный классификатор). Подробную информацию о классификаторе смотрите здесь.
Вы можете двигаться по "дереву" классификатора, а также осуществлять поиск по классификатору, вводя условие поиска в форму "Поиск в МПК".
Капустинская Наталья - менеджер, тел. (3812) 31-17-14 E-mail: adm311714@yandex.ru
| МПК » G » G01 » G01C » G01C005/00 |
|
|
Измерение высоты; измерение расстояний поперек линии визирования; нивелирование между отдельными пунктами; топографические нивелиры (3/20,3/30 имеют преимущество)
|
Всего позиций: 3 [1-3]
| Код и наименование раздела справочника МПК |
Патенты |
| G01C005/02 .с автоматической стабилизацией линии визирования | [4] | | G01C005/04 .гидростатическое нивелирование, т.е. нивелирование с помощью сообщающихся сосудов с жидкостью, установленных в разнесенных пунктах | [4] | | G01C005/06 .с помощью барометрических устройств | [8] |
Всего позиций: 3 [1-3]
|
Поиск патентов