|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| ЛАЗЕРНОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЙ ОТДЕЛЬНЫХ УЧАСТКОВ ПОВЕРХНОСТЕЙ ОБЪЕКТОВ ОТ РЕФЕРЕНТНОГО НАПРАВЛЕНИЯ |  |
Номер публикации патента: 2359224 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01C003/06 G01C015/02 | | Аналоги изобретения: | Апенко М.И. и др. Прикладная оптика. - М.: Машиностроение, 1992, с.368. RU 27421 U1, 27.01.2003. ЯМБАЕВ Х.К. СПЕЦИАЛЬНЫЕ ПРИБОРЫ ДЛЯ ИНЖЕНЕРНО-ГЕОДЕЗИЧЕСКИХ РАБОТ. - М.: НЕДРА, 1990. JP 1245110 А, 29.09.1989. DE 19818405 А, 28.10.1999. SU 280875 А, 03.09.1970. SU 823855 A, 23.04.1981. |
| Имя заявителя: | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Московский государственный университет геодезии и картографии"(МИИГАиК) (RU) | | Изобретатели: | Жилкин Александр Михайлович (RU)
Авхадеев Владимир Гашигуллович (RU)
Поставнин Борис Николаевич (RU)
Савостин Петр Иванович (RU)
Чугреев Игорь Григорьевич (RU)
Власенко Егор Павлович (RU)
Степанов Валентин Валентинович (RU)
Можаров Григорий Афанасьевич (RU) | | Патентообладатели: | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Московский государственный университет геодезии и картографии"(МИИГАиК) (RU) |
Реферат | |
Лазерное устройство для измерения отклонений отдельных участков поверхностей объектов от референтного направления, содержащее последовательно установленные лазер, оптическое устройство формирования референтного лазерного пучка и светоделительные зеркала, расположенные вдоль трассы измерений, установленные под углом к референтному направлению и частично отражающие референтный лазерный пучок, отличающееся тем, что перпендикулярно к отраженному от светоделительных зеркал лазерному пучку установлены
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента