|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ГЕОДЕЗИЧЕСКИХ ИЗМЕРЕНИЙ ОБЪЕМНЫХ ОБЪЕКТОВ ПО ЗАДАННЫМ СВЕТОВЫМ МАРКАМ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ |  |
Номер публикации патента: 2079810 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01C001/00 G01C003/00 | | Аналоги изобретения: | 1. Проспект японской фирмы "Sokkisha". - 1986. 2. Проспект швейцарского концерна "Лайка". - 1989. |
| Имя заявителя: | Московский институт инженеров геодезии, аэрофотосъемки и картографии | | Изобретатели: | Арефьев А.А.
Здоркин Ю.П. | | Патентообладатели: | Московский институт инженеров геодезии, аэрофотосъемки и картографии |
Реферат | |
Использование: при геодезических измерениях объектов сложной пространственной конфигурации. Сущность изобретения: на поверхности контролируемого объекта формируют одновременно не менее трех световых марок, одна из которых и сохраняет пространственные координаты за время измерения конкретного фрагмента контролируемой поверхности, а координаты остальных (периферийных) световых марок измеряют относительно опорной световой марки. Устройство для задания световых марок отличается наличием светоделителя лазерного излучения на три и более световых пучков и соответствующим количеством поворотных устройств периферийных лазерных пучков, снабженных отсчетными механизмами углов поворота, а также вариантами оригинальных конструкций светоделителя. 2 с. и 6 з.п. ф-лы, 7 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента