|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДИАМЕТРА ПОДВИЖНОГО ИЗДЕЛИЯ |  |
Номер публикации патента: 2095750 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01B011/08 G01B021/10 | | Аналоги изобретения: | Авторское свидетельство СССР N 1229568, кл. G 01 B 11/02, 1986. Авторское свидетельство СССР N 1767329, кл. G 01 B 21/10, 1992. |
| Имя заявителя: | Институт физики прочности и материаловедения СО РАН | | Изобретатели: | Кириков А.А.
Панин С.В.
Пашнев С.Я.
Сырямкин В.И. | | Патентообладатели: | Институт физики прочности и материаловедения СО РАН
Малое предприятие "Сигнал |
Реферат | |
Использование: область бесконтактного измерения диаметров цилиндрических тел. Сущность изобретения: устройство содержит датчик 4 изображения, подключенные к датчику 4 изображения последовательно соединенные счетчик 6 числа реализаций, дополнительный счетчик 8, счетчик 9 импульсов заполнения, регистр 10, дешифратор 11 и индикатор 12, а также первый формирователь 5 измерительного импульса, первый делитель 6 частоты. К датчику 4 изображения подключены последовательно соединенные пиковый детектор 14, схема 15 анализа, схема 16 управления блоком питания точечного источника света, блок питания 17, точечный источник света 1, оптически соединенный через коллиматор 2, и измеряемое изделие с датчиком 4 изображения, а также второй формирователь 13 измерительного импульса, схема ИЛИ 18, первый ключ 19, второй делитель 20 частоты и второй ключ 21. 6 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента