|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| РЕНТГЕНОВСКИЙ РЕФЛЕКТОМЕТР |  |
Номер публикации патента: 2176776 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01B015/08 G01N023/20 | | Аналоги изобретения: | RU 2104481 C1, 10.02.1998. SU 550565 A, 15.03.1977. SU 1516916 A, 23.10.1989. US 4938591 А, 03.07.1990. |
| Имя заявителя: | Физический институт им. П.Н. Лебедева РАН | | Изобретатели: | Турьянский А.Г.
Виноградов А.В.
Пиршин И.В. | | Патентообладатели: | Физический институт им. П.Н. Лебедева РАН |
Реферат | |
Изобретение относится к области рентгенотехники и может применяться для контроля плотности, состава и толщины тонких пленок и поверхностных слоев, а также для определения шероховатости поверхности. Рентгеновский рефлектометр содержит источник полихроматического рентгеновского излучения, средства коллимации рентгеновского пучка, держатель образца, поворотный кронштейн, ряд монохроматоров и прерыватель.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента