|
В данном разделе представлены Рефераты российских патентных документов.
Здесь Вы можете провести патентный анализ, а также приобрести полный комплект документов по патенту. Стоимость 1 патента — 150 руб. (НДС не облагается).
Поиск информации осуществляется посредством определения соответствующих критериев поиска в форме "Поиск патентов"
Патенты, представленные в данном разделе, классифицированы с использованием классификатора МПК (Международный патентный классификатор). Подробную информацию о классификаторе смотрите здесь.
Вы можете двигаться по "дереву" классификатора, а также осуществлять поиск по классификатору, вводя условие поиска в форму "Поиск в МПК".
Капустинская Наталья - менеджер, тел. (3812) 31-17-14 E-mail: adm311714@yandex.ru
| МПК » G » G01 » G01B » G01B015/00 |
|
|
Измерительные устройства, отличающиеся использованием волновых излучений или потоков элементарных частиц (9/00,11/00 имеют преимущество)[4]
|
Всего позиций: 4 [1-4]
| Код и наименование раздела справочника МПК |
Патенты |
| G01B015/02 .для измерения толщины | [82] | | G01B015/04 .для измерения контуров или кривых | [7] | | G01B015/06 .для измерения деформаций твердых тел | [7] | | G01B015/08 .для измерения шероховатости или неровности поверхностей [6] | [8] |
Всего позиций: 4 [1-4]
|
Поиск патентов