DE 19925462 C1, 15.02.2001. DE 19502459 A1, 01.08.1996. US 2002136444 A1, 26.09.2002. DE 19515949 A1, 14.11.1996. WO 2004081488 A2, 23.09.2004.
Имя заявителя:
ЭРБЮС ФРАНС (FR)
Изобретатели:
ФУРНЬЕ Николя (FR)
Патентообладатели:
ЭРБЮС ФРАНС (FR)
Приоритетные данные:
26.07.2005 FR 0552319
Реферат
Изобретение относится к области измерения дефектов формы. Заявленный способ измерения дефекта формы на панели конструкции летательного аппарата содержит операции: проекции на место нахождения дефекта на панели рисунка-мишени, представляющего собой совокупность черных и белых пятен разного размера, расположенных произвольно рядом друг с другом; получения, по меньшей мере, двух изображений этого проецируемого рисунка-мишени; обработки этих двух изображений при помощи стереоскопической корреляции для получения значений измерений геометрии дефекта. Заявленная система, позволяющая осуществлять этот способ, содержит: проекционное устройство, выполненное с возможностью проекции на место нахождения дефекта на панели рисунка-мишени, представляющего собой совокупность черных и белых пятен разного размера, расположенных произвольно рядом друг с другом; по меньшей мере, два съемочных устройства, каждое из которых выполнено с возможностью получения изображения рисунка-мишени. Также система содержит средство обработки этих изображений рисунка-мишени. Технический результат - исключение нанесения рисунка на панель конструкции летательного аппарата. 2 н. и 14 з.п. ф-лы, 4 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента