|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| ЗОНД ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ НАРОСТА ИНЕЯ НА ПОВЕРХНОСТИ |  |
Номер публикации патента: 2353898 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01B011/06 | | Аналоги изобретения: | US 5484121 A1, 16.01.1996. DE 10315676 A1, 04.11.2004. RU 2159411 C1, 20.11.2000. RU 2208370 C1, 20.07.2003. |
| Имя заявителя: | ЭРБЮС ФРАНС (FR) | | Изобретатели: | РОК Сандрин (FR) | | Патентообладатели: | ЭРБЮС ФРАНС (FR) |
Реферат | |
Изобретение относится к оптическому зонду и к устройству, содержащему множество таких оптических зондов, предназначенному для измерения толщины нароста инея на аэродинамической поверхности летательного аппарата.Техническим результатом заявленного изобретения является расширение функциональных возможностей и повышение точности измерения значительной толщины инея (например, несколько десятков сантиметров).
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента