|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПРОСТРАНСТВЕННЫХ ПАРАМЕТРОВ ГРАНИЦЫ ОБЪЕКТА |  |
Номер публикации патента: 2172470 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01B011/08 G01B011/24 | | Аналоги изобретения: | SU 1714359, 23.02.1992. SU 274386, 06.10.1970. GB 1493967 А1, 07.12.1977. |
| Имя заявителя: | Московский государственный технологический университет "СТАНКИН" | | Изобретатели: | Леун Е.В.
Загребельный В.Е.
Телешевский В.И.
Серебряков В.П.
Жирков А.О.
Шулепов А.В. | | Патентообладатели: | Московский государственный технологический университет "СТАНКИН" |
Реферат | |
Изобретение относится к области измерительной техники, а именно к лазерной интерферометрии. Сущность изобретения: в схеме формируются разночастотные дифракционные порядки - первый (неподвижный) и второй (подвижный) оптические потоки. Их пространственное совмещение позволяет создать управляемую пространственно-чувствительную область интерференции, с помощью которой сканируется, исследуется граница контролируемого объекта, приводящая к дифракции этих порядков, с помощью цифрового кода текущего фазового набега судят о пространственных параметрах этой границы, в т.ч. о параметрах движения/поворота и/или отклонений ее формы от заданной. Технический результат: увеличение диапазона измерений в предлагаемом способе. 5 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента