|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| ИЗМЕРИТЕЛЬ УГЛОВ (ВАРИАНТЫ) |  |
Номер публикации патента: 2116618 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01B011/26 G01C001/00 | | Аналоги изобретения: | Мараханов В.М. и др. Оптоэлектронные датчики линейных и угловых перемещен ий. - Приборы и системы управления, 1986, N 6, с. 14. SU 125892A, 04.02.60 . EP 0414559A2, 27.02.91. |
| Имя заявителя: | Голицын Андрей Вячеславович | | Изобретатели: | Голицын Андрей Вячеславович | | Патентообладатели: | Голицын Андрей Вячеславович |
Реферат | |
Измеритель углов может быть использован в фотоэлектрических и визуальных приборах для измерения углов, угловых координат и угловых перемещений, основанных на методах геометрической оптики. Измеритель углов содержит тест-объект и оптическую систему, формирующую изображение тест-объекта в плоскости анализатора координат изображения, который измеряет линейные координаты изображения. Анализатором изображения может быть автоматическое фотоэлектрическое устройство или шкала для определения координат изображения оператором. Оптическая система построена так, что линейное положение формируемого изображения зависит от углового положения какого-либо или каких-либо элементов оптической системы, которые связаны с контролируемым объектом. Для одновременного увеличения точности и диапазона измеряемых углов анализатор содержит пространственно периодическую структуру, а тест-объект выполнен в виде пространственно периодической структуры, дополненной маркой. Периодическая структура анализатора может быть образована расположением фотоприемных областей или растром или участками выборки изображения в процессе его сканирования. Периодическая структура тест-объекта может быть образована набором излучателей или растром с системой подсветки. Марка выделяется из периодической структуры размерами или яркостью излучения или профилем пространственного распределения яркости или нарушения периода периодической структуры. Координаты марки дают обычный для таких устройств отсчет, а комбинационное взаимодействие периодических структур тест-объекта и анализатора формирует дополнительный отсчет нониусного типа. 2 с. и 4 з.п. ф-лы, 15 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента