|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| ОПТОЭЛЕКТРОННЫЙ СПОСОБ КОНТРОЛЯ ФОРМЫ ОБЪЕКТА |  |
Номер публикации патента: 2098752 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01B011/24 | | Аналоги изобретения: | SU, авторское свидетельство N 1665231, кл. G 01 B 21/20, 1988. |
| Имя заявителя: | Московский государственный технологический университет "Станкин" | | Изобретатели: | Телешевский В.И.
Васильев В.В. | | Патентообладатели: | Московский государственный технологический университет "Станкин" |
Реферат | |
Использование: в измерительной технике, а конкретно, может быть использовано в приборостроении и точном машиностроении для контроля с повышенной точностью объектов сложной формы. Сущность изобретения заключается в том, что в оптоэлектронном способе контроля формы объекта, включающем то, что освещают по выбранным направлениям поверхность контролируемого объекта, регистрируют отраженное излучение и судят о форме объекта по параметрам электрических сигналов с учетом параметров электрических сигналов, соответствующих излучению, отраженному от эталонной поверхности после ее освещения, в качестве эталонной поверхности используют поверхность объекта с эталонной формой с нанесенными на нее слоями загрязняющего вещества известной толщины, по результату контроля формы объекта с эталонной поверхностью определяют длину волны λк излучения, при освещении которым эталонной поверхности поглощение излучения известным загрязняющим слоем максимально, рассчитывают поправки, определяемые из зависимости максимальной амплитуды электрических сигналов от толщины загрязняющего слоя, освещают контролируемую поверхность излучением с длиной волны λк , а о форме контролируемого объекта судят с учетом рассчитанной поправки. 1 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента