|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| ИЗМЕРИТЕЛЬ КАЧЕСТВА ПОВЕРХНОСТИ |  |
Номер публикации патента: 2075885 |  |
| Имя заявителя: | Камский политехнический институт | | Изобретатели: | Сысоев В.В. | | Патентообладатели: | Камский политехнический институт |
Реферат | |
Измеритель качества поверхности, содержащей основание и укрепленные на нем осветительную систему, оптическую приемную систему зеркальной составляющей светового потока, систему измерения интенсивности светового потока, блок отношения диффузной и зеркальной составляющей отраженного светового потока, вход которого связан с выходом системы измерения интенсивности светового потока, отличающийся тем, что он снабжен поляризатором, установленным в осветительной системе так, что его ось пропускания параллельна плоскости основания, рассположенным на входе оптической приемной системы поляризатором-анализатором, связанным с системой поворота его относительно оси и устройством контроля поворота его оси пропускания, а выход последнего соединен с входом блока измерения отношения диффузной и зеркальной составляющих отраженного потока.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента