|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ БЕСКОНТАКТНОГО ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ОБЪЕКТА |  |
Номер публикации патента: 1826697 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01B011/06 | | Аналоги изобретения: | 1. Справочник обувщика (проектирование обуви, материалы) Под ред.А.Н.Калиты - М.: Легпромбытиздат, 1988, с.104-132. 2. Вальков В.М. Контроль в ГАП. - Л. - Машиностроение, 1986, сс.102-103. |
| Имя заявителя: | Ленинградский институт текстильной и легкой промышленности им.С.М.Кирова | | Изобретатели: | Комиссаров А.Г. |
Реферат | |
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в легкой промышленности для автоматизации процесса сортировки кож. Цель изобретения - повышение точности измерения путем исключения погрешностей, вызванных неконтролируемым наклоном объекта. На контролируемый объект с двух противоположных сторон направляют по опорному и дополнительному зондирующему пучку излучения. Опорные пучки расположены на одной прямой. Дополнительные пучки расположены на заданных расстояниях от опорных так, что плоскости, образованные парами пучков, лежат по одну сторону контролируемого объекта, ориентированы взаимно перпендикулярно и пересекаются по линии, образованной опорными пучками. Пучки излучения отражаются от контролируемого объекта и образуют световые пятна в плоскостях изображения оптических систем, установленных соответственно с двух противоположных сторон контролируемого объекта. Замеряют координаты образованных световых пятен, по результатам измерений определяют методом триангуляции длины отрезков опорных и дополнительных пучков от проекций на них центров соответствующих оптических систем до контролируемого объекта и вычисляют толщину h контролируемого объекта по формуле  где lo -проекция расстояния между центрами оптических систем на линию опорных пучков; l1, l2 - длины отрезков опорных пучков от проекций на них центров соответствующих оптических систем до контролируемого объекта: l3, l4 - длина отрезка дополнительного пучка лучей, соответствующего соответственно опорному пучку l1, l2 от проекции на него центра соответствующей оптической системы до контролируемого объекта: dl,3, d2,4 - расстояние между направлениями опорного и дополнительного пучков соответственно l1 и l3, l2 и l4 (заранее заданы). Способ обладает расширенными технологическими возможностями и позволяет измерять толщину жестких кож в автоматическом режиме. 2 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента