|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| ДВУХПАРАМЕТРОВЫЙ СПОСОБ КОНТРОЛЯ ИЗДЕЛИЙ |  |
Номер публикации патента: 2305280 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01N027/90 G01B007/06 | | Аналоги изобретения: | RU 2184930 С2, 10.07.2002. RU 2184931 C2, 10.07.2002. SU 1670371 A1, 15.08.1991. SU 1052988 A, 07.11.1983. US 5541510 A, 30.07.1996. BG 50465 A, 14.08.1992. |
| Имя заявителя: | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Академия Федеральной службы охраны Российской Федерации (Академия ФСО России) (RU) | | Изобретатели: | Богданов Николай Григорьевич (RU)
Иванов Борис Рудольфович (RU)
Щекотихин Сергей Николаевич (RU) | | Патентообладатели: | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Академия Федеральной службы охраны Российской Федерации (Академия ФСО России) (RU) |
Реферат | |
Изобретение относится к неразрушающему контролю качества материалов и изделий и может быть использовано для измерения толщины немагнитных покрытий на ферромагнитной основе и контроля толщины диэлектрического покрытия с учетом электромагнитных свойств изделия. Технический результат: расширение диапазона измерения и повышение достоверности и производительности контроля.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента