|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| ВИХРЕТОКОВЫЙ СПОСОБ ДВУХПАРАМЕТРИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ ИЗДЕЛИЙ |  |
Номер публикации патента: 2184930 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01B007/06 | | Аналоги изобретения: | SU 1608422 A1, 23.11.1990. SU 1619007 A1, 07.01.1991. |
| Имя заявителя: | Орловский государственный технический университет | | Изобретатели: | Богданов Н.Г.
Отрошенко Ю.Н.
Приходько В.А.
Суздальцев А.И. | | Патентообладатели: | Орловский государственный технический университет |
Реферат | |
Способ относится к неразрушающему контролю качества материалов и изделий. Способ может быть использован для измерения толщины немагнитных покрытий с компенсацией влияния зазора между вихретоковым преобразователем и поверхностью изделия или для измерения толщины диэлектрических покрытий независимо от вариации электромагнитных свойств основы.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента