|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП, СОВМЕЩЕННЫЙ С ИНВЕРТИРОВАННЫМ ОПТИЧЕСКИМ МИКРОСКОПОМ |  |
Номер публикации патента: 2180726 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01B007/34 | | Аналоги изобретения: | EP 527448 A2, 17.02.1993. US 5463897 A, 07.11.1995. US 6032518 A, 07.03.2000. RU 2132063 C, 27.06.2000. RU 95108587 A1, 20.08.1996. |
| Имя заявителя: | ЗАО "НТ-МДТ" | | Изобретатели: | Быков В.А.
Беляев А.В.
Жижимонтов В.В.
Саунин С.А.
Фюрст Л.Г. | | Патентообладатели: | ЗАО "НТ-МДТ" |
Реферат | |
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам измерения с помощью сканирующего зондового микроскопа (СЗМ) рельефа, линейных размеров и других характеристик объектов, преимущественно в биологии, с одновременным оптическим наблюдением объекта в проходящем через объект свете. Сущность изобретения заключается в том, что в сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с инвертированным оптическим микроскопом, содержащий основание, пьезосканер, держатель объекта с объектом, распол
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента