|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ НЕРОВНОСТИ ВНУТРЕННЕЙ ПОВЕРХНОСТИ ЦИЛИНДРИЧЕСКОЙ ОБЕЧАЙКИ |  |
Номер публикации патента: 2142111 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01B005/20 G01B005/28 | | Аналоги изобретения: | SU 1033845 A, 07.08.83. FR 2179291 A, 22.10.73. SU 510638 A1, 15.04.76. SU 726927 A, 15.07.81. |
| Имя заявителя: | Открытое акционерное общество Научно-исследовательский и конструкторско-технологический институт асбестовых технических изделий - фирма ТИИР | | Изобретатели: | Шарапов В.Б.
Параунин Ю.Л. | | Патентообладатели: | Открытое акционерное общество Научно-исследовательский и конструкторско-технологический институт асбестовых технических изделий - фирма ТИИР |
Реферат | |
Изобретение относится к технике контроля, в частности к устройствам контроля формы цилиндрических обечаек. Устройство содержит основание, установленный на основании шаблон с контрольной поверхностью, узел прижима контролируемой обечайки к шаблону. Узел прижима установлен с возможностью перемещения в направлении центральной оси шаблона. Узел прижима выполнен в виде ступенчатой системы равноплечих рычагов. Оси рычагов каждой последующей ступени шарнирно закреплены на концах рычагов предыдущей ступени. Между шаблоном и узлом прижима установлена траверса, в которой с возможностью перемещения вдоль радиусов шаблона размещены равномерно по его длине штоки. Штоки выполнены с возможностью регулирования их длины, и на их концах шарнирно закреплены коромысла, на плечах которых установлены упоры с возможностью регулирования расстояния между ними. Шаблон снабжен сменными упорами. Расширение технологических возможностей достигается за счет создания равномерно распределенной прижимающей нагрузки при контроле цилиндрических обечаек различных типоразмеров. 1 з.п.ф-лы, 2 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента