|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДИАМЕТРА ОТВЕРСТИЯ МЕТОДОМ ОБКАТЫВАНИЯ |  |
Номер публикации патента: 2062973 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01B005/12 | | Аналоги изобретения: | 1.Авторское свидетельство СССР № 403944, кл. G 01 В 5/08, 1973. 2.Авторское свидетельство СССР N 796638, кл. G 01 B 5/12, 1981- прототип. |
| Имя заявителя: | Миронченко Владимир Ильич | | Изобретатели: | Миронченко Владимир Ильич | | Патентообладатели: | Миронченко Владимир Ильич |
Реферат | |
Устройство относится к измерительной технике. Решаемой задачей является повышение точности измерения и расширение функциональных возможностей. Устройство содержит основание, установленные на нем привод с валом и датчик линейных перемещений, измерительный ролик, водило, установленное с зазором на валу, установленный на водиле подпружиненный шарик, взаимодействующий с измерительным роликом, установленное на основании средство смещения водила. Измерительный ролик вводится в отверстие измеряемой детали. Средством смещения сдвигают водило относительно основания, при этом ролик прижимается к поверхности измеряемого отверстия и базируется на нем. Вращаемое приводом водило через подпружиненный шарик заставляет катиться измерительный ролик по поверхности измеряемого отверстия. Датчик измеряет размах радиальных биений измерительного ролика при обкатывании. Искомый размер определяется как сумма этого размаха и диаметра измерительного ролика. 5 з. п. ф-лы, 3 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента