|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ИЗДЕЛИЯ С ПОМОЩЬЮ УЛЬТРАЗВУКОВЫХ ИМПУЛЬСОВ |  |
Номер публикации патента: 2231753 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01B017/02 | | Аналоги изобретения: | SU 1219919 А, 23.03.1986. SU 1696858 А1, 07.12.1991. DE 3903396 А1, 10.08.1989. GB 2089039 А1, 16.06.1982. |
| Имя заявителя: | ЗАО "НИИИН МНПО "Спектр" (RU) | | Изобретатели: | Самокрутов А.А. (RU)
Козлов В.Н. (RU)
Шевалдыкин В.Г. (RU) | | Патентообладатели: | ЗАО "НИИИН МНПО "Спектр" (RU) |
Реферат | |
Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и неразрушающего контроля и может быть использовано при толщинометрии, дефектоскопии и структуроскопии различных материалов и изделий. Сущность: способ включает излучение в материал изделия ультразвукового импульса и прием из него импульсов, многократно отраженных от противоположных поверхностей материала.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента