|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЙ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ МИКРОСКОП |  |
Номер публикации патента: 2073196 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01B009/02 | | Аналоги изобретения: | 1. Авторское свидетельство СССР N 567093, кл. G 01B 9/04, 1977. 2. Патент Великобритании N 1301626, кл. G 01B 9/04, 1971. |
| Имя заявителя: | Научно-исследовательский институт прикладной математики и кибернетики при Нижегородском государственном университете им.Н.И.Лобачевского | | Изобретатели: | Привер Л.С. | | Патентообладатели: | Научно-исследовательский институт прикладной математики и кибернетики при Нижегородском государственном университете им.Н.И.Лобачевского |
Реферат | |
Использование: измеритель предназначен для наводки на штрих эталонной шкалы с прозрачными штрихами и для измерения с высокой точностью отклонений от этого положения в пределах нескольких миллиметров. Измеритель состоит из корпуса, содержащего сканатор в виде вращающегося многогранного зеркала, а также фотоэлектрические коллиматор и автоколлиматор, с помощью которых вырабатываются измерительные и опорные импульсы. Временные интервалы между этими импульсами зависят от взаимного расположения центра сканирования светового пятна и штриха линейки, что позволяет с помощью электронного блока выделять выходной сигнал, пропорциональный отклонению от центра штриха. 2 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента