|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| АВТОМАТИЗИРОВАННЫЙ ПРОФИЛОГРАФ - ПРОФИЛОМЕТР |  |
Номер публикации патента: 2073193 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01B005/28 | | Аналоги изобретения: | 1.Механика и физика контактного взаимодействия. /Межвузовский сб.научных трудов под ред. Демкина Н.Б. - Тверь, ТвеПИ, 1990, с.8 - 14. 2.Трение и износ, 1991, т.12, N 5, с.781 -7 87. 3. Профилограф-профилометр. Модель 252. Техническое описание 252ТО, 1979. |
| Имя заявителя: | Товарищество с ограниченной ответственностью "МФ СЕЗАМУ" | | Изобретатели: | Замятин А.Ю.
Демкин Н.Б.
Замятин Ю.П. | | Патентообладатели: | Товарищество с ограниченной ответственностью "МФ СЕЗАМУ" |
Реферат | |
Сущность изобретения: автоматизированный профилограф-профилометр содержит основание, заданно-ориентированную опору-кассету для закрепления исследуемого образца, электромеханический преобразователь (4) с приводом (5), датчик перемещения (6) привода и электронный блок (7), который включает в себя входной усилитель (8), АЦП (9), четыре логических элемента ИЛИ (10, 17, 21, 31), три логических элемента И (11, 18, 23), селектор частот (12), формирователь сетки частот (13), генератор опорной частоты (14), ОЗУ (15), счетчик адреса (16) ОЗУ, два триггера (19, 20), двунаправленный шинный усилитель (22), дешифратор команды (24), четыре параллельных регистра (25 - 28), дешифратор адреса (29), блок управления (30) и компаратор (32). Предложенный профилограф-профилометр позволяет полностью автоматизировать процесс снятия и обработки профилограмм за счет автоматического ввода характеристик поверхности в ЭВМ и дистанционного управления параметрами исследований (установка начального положения трассы измерения, частоты и количества измерений профиля, усиления канала профилографирования), значительно увеличить производительность испытаний и сократить время определения искомых параметров. 2 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента