ЕА 005261 В1, 28.08.2003. SU 852184 A3, 30.07.1981. SU 768953 А1, 07.10.1980. SU 964124 А1, 07.10.1982. US 6355928 В1, 12.03.2002. US 6301959 В1, 16.10.2001. SU 346976 А1, 17.09.1973. US 3780575 A, 25.12.1973.
Имя заявителя:
ШЛЮМБЕРГЕР ТЕКНОЛОДЖИ Б.В. (NL)
Изобретатели:
ВЕНКАТАРАМАНАН Лалитха (US) МАЛЛИНЗ Оливер С. (US) ВАСКЕС Рикардо (US)
Патентообладатели:
ШЛЮМБЕРГЕР ТЕКНОЛОДЖИ Б.В. (NL)
Приоритетные данные:
11.01.2005 US 60/642,781 19.05.2005 US 11/132,545 18.08.2005 US 11/207,043
Реферат
Изобретение относится к анализу пластовых флюидов для оценки и проверки геологической формации в целях разведки и разработки нефтяных или газовых скважин. Техническим результатом является повышение точности определения свойств скважинных флюидов. Для этого в одном варианте получают первый флюид в первом пункте в скважине. Захватывают первый флюид в устройство. Получают второй флюид во втором пункте в скважине. При по существу одинаковых скважинных условиях выполняют анализ флюидов упомянутым устройством в скважине для получения данных о свойствах флюидов. Квантифицируют неопределенность в полученных свойствах флюида. При этом устройство в одном варианте оборудовано скважинным инструментом, включающим в себя трубопровод с оптической ячейкой, избирательно действующее устройство, анализатор флюида и, по меньшей мере, один процессор. При этом избирательно действующее устройство связано с трубопроводом для обеспечения протока и захвата, по меньшей мере, первого и второго флюида через оптическую ячейку. Анализатор флюида оптически связан с ячейкой и выполнен для выработки данных о свойствах флюида в отношении первого и второго флюида, протекающего через ячейку. Процессор связан со скважинным инструментом и включает в себя средство для получения данных о свойствах флюида от скважинного инструмента. Причем данные о свойствах флюида вырабатываются в по существу одних и тех же скважинных условиях. При этом упомянутый процессор выполнен для квантифицирования неопределенности в свойствах флюида. 6 н. и 19 з.п. ф-лы, 27 ил., 3 табл.
Поиск патентов
Получить полное описание патента