WO 03014427 A1, 20.02.2003. US 6211484 B1, 03.04.2001. US 2003223054 А1, 04.12.2003. LU T. et al., Characterization of a notable historic gem diamond showing the alexandrite effect. "Journal of Crystal Growth", 1998,193, p.p.577-584. GB 2332651 А, 30.06.1999. RU 2006538 C1, 30.01.1994.
Имя заявителя:
ЭЛЕМЕНТ СИКС ЛИМИТЕД (GB)
Изобретатели:
ТУИТЧЕН Даниел Джеймс (GB) СКАРСБРУК Джеффри Алан (GB) МАРТИНОУ Филип Морис (GB) СПИР Пол Мартин (GB)
Патентообладатели:
ЭЛЕМЕНТ СИКС ЛИМИТЕД (GB)
Приоритетные данные:
12.12.2003 GB 0328917.0 17.12.2003 US 60/529,746 07.09.2004 GB 0419839.6 16.09.2004 US 60/610,223
Реферат
Изобретение относится к технологии маркировки алмазного материала. Способ встраивания производственной марки или идентификационной метки в монокристаллический алмазный материал, полученный методом химического осаждения из газовой фазы (ХОГФ), включает подготовку алмазной подложки и исходного газа, диссоциацию исходного газа, посредством чего обеспечивают процесс гомоэпитаксиального роста алмаза, и для получения производственной марки или идентификационной метки в синтетическом алмазном материале вводят в процессе синтеза контролируемым образом, по меньшей мере, одну допирующую добавку химического элемента, выбранного из группы, включающей азот, бор и кремний, в форме дефектных центров, испускающих при возбуждении излучение с характерной длиной волны и в такой концентрации, чтобы производственная марка или идентификационная метка при нормальных условиях наблюдения не была легко обнаруживаемой или не влияла на воспринимаемые качества алмазного материала, но была обнаруживаемой или становилась обнаруживаемой при освещении светом с длиной волны, возбуждающей дефектные центры, величина которой меньше упомянутой характерной длины волны излучения, испускаемого дефектными центрами, и видимой при условиях наблюдения, в которых это освещение не видимо для наблюдателя. Изобретение позволяет упростить определение синтетической природы алмазного материала. 2 н. и 50 з.п. ф-лы, 19 ил.