RU 2391410 С1, 10.06.2010. SU 989420, 15.01.1983. Kotelnikov G.V., Moiseyeva S.P. and Krayev V.P. Calorimetric method for adjusting the mass of culture in a bioreactor // Review of Scientific Instruments. - 1998, vol.69, p. 2137-2140.
Имя заявителя:
Учреждение Российской академии наук Институт биологического приборостроения с опытным производством РАН (ИБП РАН) (RU)
Изобретатели:
Котельников Григорий Владимирович (RU) Моисеева Софья Петровна (RU)
Патентообладатели:
Учреждение Российской академии наук Институт биологического приборостроения с опытным производством РАН (ИБП РАН) (RU)
Реферат
Изобретение относится к области биотехнологии, биохимии и технической микробиологии и может быть использовано в длительных непрерывных и периодических процессах при строгом поддержании массы культуральной жидкости. Способ включает измерение теплопродукции по изменению тепловой мощности, затрачиваемой на поддержание изотермического режима ферментационного сосуда при останавливаемых протоках жидких и газообразных сред через ферментационный сосуд с введением поправки на вклад тепловой мощности от перемешивания культуральной жидкости. При этом устраняют вклад в теплопродукцию тепловой мощности от изменений в ферментационном сосуде массы культуральной жидкости благодаря поддержанию исходного ее значения с заданной точностью в условиях проводимых непрерывных и периодических процессов культивирования по равенству приращений энергии, затрачиваемых для каждого нагрева ферментационного сосуда в процессе поддержания заданного значения массы культуральной жидкости, значению приращения энергии, полученному при калибровочном нагреве ферментационного сосуда, заполненного исходной массой культуральной жидкости, при этом определение теплопродукции и поддержание массы культуральной жидкости в течение проводимого процесса культивирования микроорганизмов разнесены во времени. Изобретение обеспечивает повышение точности измерений в ферментационном сосуде теплопродукции микроорганизмов в непрерывных и периодических процессах. 1 з.п. ф-лы, 3 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента