|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| АНАЛИЗ АНАЛИТОВ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ ЧАСТИЦ В КАЧЕСТВЕ МЕТКИ |  |
Номер публикации патента: 2251572 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | C12N015/87 G03G005/00 | | Аналоги изобретения: | RU 2009505 С1, 15.03.1994. RU 2025732 С1, 30.12.1994. RU 2058032 С1, 10.04.1996. US 5079172 А, 07.01.1992. US 4420558 А, 13.12.1983. US 4446238 А, 01.05.1984. US 4752567 А, 21.06.1988. |
| Имя заявителя: | ДЖЕНИКОН САЙЕНСИЗ КОРПОРЕЙШН, ДЗЕ РИДЖЕНТС ОФ ДЗЕ ЮНИВЕРСИТИ ОФ КАЛИФОРНИЯ (US) | | Изобретатели: | ЙГУЕРАБИДЕ Хуан (US)
ЙГУЕРАБИДЕ Евангелина Е. (US)
КОХНЕ Дэвид Е. (US)
ДЖЕКСОН Джеффри Т. (US) | | Патентообладатели: | ДЖЕНИКОН САЙЕНСИЗ КОРПОРЕЙШН
ДЗЕ РИДЖЕНТС ОФ ДЗЕ ЮНИВЕРСИТИ ОФ КАЛИФОРНИЯ (US) |
Реферат | |
Изобретение относится к способу детектирования и измерения одного или более аналитов в образце. Способ включает связывание одного или более аналитов в образце со светорассеивающей частицей; освещение любой частицы, связанной с аналитами, светом при условиях, которые производят рассеянный свет от частицы и при которых свет, рассеянный от одной или более частиц, может быть обнаружен человеческим глазом с увеличением менее чем в 500 раз и без электронного усиления.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента