ШОРМАНОВ В.К., БАРАНОВ Ю.Н. Научно-практическая конференция с международным участием: Состояние, перспективы судебно-токсикологической службы и научных исследований. - Харьков, 2005, с.43. RU 2395081 С2, 27.03.2010. RU 2269137 C1, 27.01.2006. RU 2153169 C1, 20.07.2002.
Имя заявителя:
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Курский государственный медицинский университет Федерального агентства по здравоохранению и социальному развитию" (RU)
Изобретатели:
Шорманов Владимир Камбулатович (RU) Баранов Юрий Николаевич (RU) Дурицын Евгений Петрович (RU) Писарева Екатерина Анатольевна (RU)
Патентообладатели:
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Курский государственный медицинский университет Федерального агентства по здравоохранению и социальному развитию" (RU)
Реферат
Изобретение относится к биологии, экологии, а также - к токсикологической и санитарной химии. Способ заключается в том, что анализируемую пробу настаивают с органическим изолирующим агентом, полученное извлечение очищают путем хроматографирования в колонке силикагеля L 40/100 µ, осуществляя элюирование смесью органических растворителей, и проводят определение анализируемого вещества хроматографическим методом, используя подвижную фазу, включающую гексан, диоксан и пропанол-2, причем органическим изолирующим агентом является толуол, толуольное извлечение обезвоживают безводным сульфатом натрия, в процессе очистки через колонку вначале пропускают гексан, а затем элюируют смесью растворителей гексан-диоксан-пропанол-2 (8:3:0,6 по объему), фракции элюата, содержащие анализируемое вещество, объединяют, элюент испаряют, остаток растворяют в смеси растворителей гексан-диоксан-пропанол-2 (15:5:1 по объему) и проводят определение методом ВЖЭХ в колонке размерами 64×2 мм, заполненной сорбентом «Силасорб-600», с применением подвижной фазы гексан-диоксан-пропанол-2 (15:5:1 по объему) и УФ-детек-тора. Достигается повышение точности и чувствительности анализа. 4 табл.
Поиск патентов
Получить полное описание патента