US 2011134232 А1, 09.06.2011. CN 101915752 А, 15.12.2010. JP 2010160264 А, 22.07.2010. JP 2007248554 А, 27.09.2007. Bao, Н., Boussioutas, A., Jeremy, R., Russell, S., Gu, M. «Second harmonic generation imaging via nonlinear endomicroscopy», Optics Express, Volume 18, Issue 2, 18 January 2010, Pages 1255-1260.
Имя заявителя:
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Московский государственный технический университет радиотехники, электроники и автоматики" (МГТУ МИРЭА) (RU), Общество с ограниченной ответственностью "Альбедо" (RU)
Изобретатели:
Мишина Елена Дмитриевна (RU) Семин Сергей Владимирович (RU) Федянин Андрей Анатольевич (RU) Конященко Матвей Александрович (RU)
Патентообладатели:
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Московский государственный технический университет радиотехники, электроники и автоматики" (МГТУ МИРЭА) (RU) Общество с ограниченной ответственностью "Альбедо" (RU)
Реферат
Микроскоп включает платформу для размещения образца, выполненную с возможностью перемещения, источник лазерного излучения для направления излучения через оптико-механический прерыватель, используемый для модуляции и предварительного снижения средней мощности излучения, систему зеркал, и оптический вентиль, состоящий из полуволновой пластинки, установленной на автоматизированной вращающейся платформе, и фокусирующую градиентную линзу на исследуемый образец для приема отраженного от образца излучения приемной частью. Приемная часть включает поляризатор и детектор, используемый для приема излучения на входную апертуру оптического волокна. Детектор установлен на гониометре с возможностью изменения своего углового положения и связан с монохроматором, имеющим поворотное зеркало для переключения между выходом, связанным с ПЗС матрицей, и выходом, связанным с фотоэлектронным умножителем, связанным с синхронным детектором, синхронизированным с оптико-механическим прерывателем для регистрации световых потоков низкой интенсивности в режиме счета фотонов. Технический результат - повышение эксплуатационных характеристик. 11 ил., 1 табл.
Поиск патентов
Получить полное описание патента