DE 10055318 A1, 20.12.2001. RU 2164718 C1, 27.03.2001. DE 102004032451 A1, 26.01.2006. FR 2897281 A1, 17.08.2007. Сборник тезисов и докладов научно-технологических секций Международный форум по нанотехнологиям 3-5.12, Москва, 2008.
Имя заявителя:
Российская Федерация, от имени которой выступает государственный заказчик - Министерство образования и науки Российской Федерации (RU), Государственное учебно-научное учреждение Физический факультет Московского Государственного университета имени М.В. Ломоносова (RU)
Изобретатели:
Руденко Олег Владимирович (RU) Алфимов Михаил Владимирович (RU) Рыбак Самуил Акивович (RU) Коробов Александр Иванович (RU) Лебедев-Степанов Петр Владимирович (RU) Коршак Борис Алексеевич (RU) Одина Наталья Ивановна (RU)
Патентообладатели:
Российская Федерация, от имени которой выступает государственный заказчик - Министерство образования и науки Российской Федерации (RU) Государственное учебно-научное учреждение Физический факультет Московского Государственного университета имени М.В. Ломоносова (RU)
Реферат
Изобретение относится к области нанотехнологий и может быть использовано для формирования наноструктур из испаряемой микрокапли воздействием акустических полей. Технический результат - универсальность в отношении класса объектов, подвергаемых наноструктурированию. Комплекс для формирования наноструктур включает формирователь наноструктур, оптический микроскоп, средство отображения информации и средство обработки информации и управления комплексом. Формирователь наноструктур содержит основание и источник формирующего воздействия, при этом основание выполнено пьезоэлектрическим с возможностью нанесения на его поверхность исходного субстрата, а источником формирующего наноструктуру воздействия служат поверхностные акустические волны (ПАВ), причем для создания линии ПАВ на пьезоэлектрическом основании размещена пара встречно-штыревых преобразователей (ВШП) с возможностью возбуждения между ними акустического поля, а формирователь установлен в предметной плоскости оптического микроскопа, при этом ось визирования микроскопа ориентирована относительно основания под углом , помимо этого в комплекс введены генератор высокочастотных колебаний и соединенный с ним широкополосный усилитель, связанный с ВШП. 2 н. и 10 з.п. ф-лы, 1 ил., 1 табл.