|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ИСПЫТАНИЙ СИСТЕМЫ ТЕРМОРЕГУЛИРОВАНИЯ КОСМИЧЕСКОГО АППАРАТА |  |
Номер публикации патента: 2132805 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | B64G007/00 B64G001/50 | | Аналоги изобретения: | 1. Андрейчук О.Б., Малахов Н.Н. Тепловые испытания космических аппаратов. - М.: Машиностроение, 1982, с. 114 - 115, рис. 7.1. 2. Там же, с. 12 - 17. 3. SU 316958 A, 08.12.71. 4. Ekern W.F. et al. Thermal vacuum test of a large-scale prototype multi-heat pipe thermal control assembly. AIAA Pap. 1974, N 727, 8 p. |
| Имя заявителя: | Научно-производственное объединение прикладной механики | | Изобретатели: | Акчурин В.П.
Баранов М.В.
Бодунов А.С.
Загар О.В.
Козлов А.Г.
Халиманович В.И. | | Патентообладатели: | Научно-производственное объединение прикладной механики |
Реферат | |
Изобретение относится к космической технике, в частности, к способам наземных испытаний системы терморегулирования космического аппарата. Согласно изобретению, производят проверку функционирования системы при подготовке к пуску аппарата, разъединение жидкостных трактов системы и съемного оборудования после проверки, снятие последнего с космического аппарата и измерение объема газовой полости компенсатора объема с помощью эталонной емкости. Данный объем измеряют, при двух различных допустимых давлениях, до разъединения жидкостных трактов (разность значений должна быть не более определенной на заводе-изготовителе), а после разъединения этих трактов измеряют объем указанной газовой полости и определяют в жидкостном тракте системы, также при двух различных давлениях в газовой полости, объем газовых пузырей, который не должен превышать допустимый. Изобретение направлено на повышение достоверности результатов испытаний и эксплуатационной надежности системы терморегулирования. 1 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента