YAN JIN, I-MING CHEN, GUILIN YANG Structure Synthesis and Singularity Analysis of a Parallel Manipulator Based on Selective Actuation./Proceedings of the 2004 IEEE International Conference on Robotics & Automation New Orlean, LA April 2004, Fig.4/. RU 2245241 C2, 27.01.2005. RU 2288091 C2, 27.11.2006. US 2003/0121351 A1, 03.07.2003. US 2004/0091348 A1, 13.05.2004.
Имя заявителя:
Российская Академия Наук Учреждение Российской академии наук Институт Машиноведения им.А.А. Благонравова РАН (RU)
Изобретатели:
Глазунов Виктор Аркадьевич (RU) Тывес Леонид Иосифович (RU) Шалюхин Константин Андреевич (RU)
Патентообладатели:
Российская Академия Наук Учреждение Российской академии наук Институт Машиноведения им.А.А. Благонравова РАН (RU)
Реферат
Изобретение относится к области машиностроения, в частности к пространственным манипуляторным механизмам роботов с шестью степенями свободы. Пространственный механизм включает основание, выходное звено, три соединительные кинематические цепи, каждая из которых содержит установленные с параллельными осями привод вращательного движения и привод поступательного движения, входное звено, промежуточное звено и два шарнира, оси которых расположены с пересечением в одной точке выходного звена. Каждая соединительная кинематическая цепь снабжена двумя последовательно установленными шарнирными параллелограммами, расположенными в плоскостях, перпендикулярных осям соответствующих приводов. Начальное звено первого шарнирного параллелограмма соединено с входным звеном соответствующей цепи в середине указанного начального звена. Конечное звено первого шарнирного параллелограмма совмещено с начальным звеном второго шарнирного параллелограмма. Конечное звено второго шарнирного параллелограмма сопряжено в его центре с промежуточным звеном, ось которого установлена параллельно с осями приводов соответствующей кинематической цепи и с пересечением в одной точке осей всех шарниров. Повышаются техническая и эксплуатационная эффективность манипулирования в пространстве по шести координатам. 1 з.п. ф-лы. 1 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента