На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
СПОСОБ АКТИВНОГО КОНТРОЛЯ ДИАМЕТРОВ | |
Номер публикации патента: 2119860 | |
Редакция МПК: | 6 | Основные коды МПК: | B24B049/00 | Аналоги изобретения: | Приборы активного контроля в станкостроении. Обзор патентных описаний. Серия С-2.-М.: НИИМАШ, 1975, с.27, рис.16. Кондашевский В.В. и др. Активный контроль размеров деталей на металлорежущих станках. Омск: Западно-Сибирское изд., 1976, с.179, рис. 3.59, в. |
Имя заявителя: | Толкачев Владимир Михайлович | Изобретатели: | Толкачев Владимир Михайлович | Патентообладатели: | Толкачев Владимир Михайлович |
Реферат | |
Изобретение может быть использовано в машиностроении. Измерительную управляющую систему (ИУС) комплектуют из двух преобразователей линейных перемещений, блока управления и вспомогательных устройств. Контролируют положения точек пересечения линий измерения ИУС с рабочей поверхностью копира и с обрабатываемой поверхностью заготовки. Копир выполнен с цилиндрической рабочей поверхностью. Во время активного контроля координата любой из контрольных точек изменяется до нового значения. При этом выполняют условие где X - расстояние между осью симметрии заготовки и линией измерения ИУС, пересекающей обрабатываемую поверхность в контрольной точке: d - заданный диаметр: h - рабочий диапазон преобразователя. Можно контролировать положение двух точек на рабочей поверхности копира и двух точек на обрабатываемой поверхности заготовки. Регулируют температуру копира. Позволяет повысить точность контроля. 3 з.п.ф-лы, 2 ил.
|