|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ФОРМИРОВАНИЯ ИНДИКАТОРА ПОКАЗАТЕЛЯ КАЧЕСТВА ОБРАБАТЫВАЕМОЙ ДЕТАЛИ |  |
Номер публикации патента: 2220030 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | B23H001/00 B23Q017/20 | | Аналоги изобретения: | DE 3615838 A1, 23.12.1987. EP 0402840 A1, 19.12.1990. FR 2568805 A1, 14.02.1986. EP 0218340 A1, 15.04.1987. |
| Имя заявителя: | ЮНАЙТЕД ТЕКНОЛОДЖИЗ КОРПОРЕЙШН (US) | | Изобретатели: | ХИГЕРЕЙ Эвелица Е. (US)
ШВАЙЗЕРХОФ Аарон Л. (US) | | Патентообладатели: | ЮНАЙТЕД ТЕКНОЛОДЖИЗ КОРПОРЕЙШН (US) |
Реферат | |
Изобретение относится к получению изделий в результате стохастического процесса обработки. Технический результат - прогнозирование показателя качества обрабатываемой детали. Изобретение предусматривает использование, по меньшей мере, одного датчика, который воспринимает значения одного или более параметров, ассоциированных со стохастическим процессом обработки, и вырабатывает, по меньшей мере, один измерительный сигнал, характеризующий указанный параметр, а также процессора сигналов, снабженного
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента