|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ И ЗАЛИВКИ ШЛАКА И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ |  |
Номер публикации патента: 2058870 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | B23K025/00 | | Аналоги изобретения: | 1. Электрошлаковые печи. /Под ред. Б.Е.Патона и Б.И.Медовара. Киев: Наукова Думка, 1976, с.324, 325, рис.364 и 365. 2. Электрошлаковая технология за рубежом. /Под ред.Б.И.Патона и Б.И.Медовара. Киев: Наукова думка, 1982, с.185, 187. |
| Имя заявителя: | Череповецкий металлургический комбинат | | Изобретатели: | Шекин Владимир Викторович[UA]
Романюк Юрий Владимирович[RU]
Рослякова Наталья Евгеньевна[RU] | | Патентообладатели: | Акционерное общество открытого типа "Северсталь" |
Реферат | |
Использование: в металлургии для получения слойного металла. Сущность изобретения: способ получения и заливки шлака в основной кристаллизатор для ведения электрошлаковой наплавки заготовки под углом к горизонту предполагает осуществление жидкого старта путем образования жидкого шлакового расплава в емкости, ограниченной стенками дополнительного кристаллизатора и подвижной изолирующей стенкой. Емкость для получения жидкого расплава образуют на поверхности направляемой заготовки впереди рабочего пространства основного кристаллизатора. Слив шлакового расплава в основной кристаллизатор осуществляют при поднятой подвижной изолирующей стенке в рабочее пространство основного кристаллизатора по поверхности заготовки. Устройство для получения и заливки шлака в основной кристаллизатор содержит емкость для получения жидкого расплава, образованную стенками дополнительного кристаллизатора и подвижной изолирующей стенкой, отделяющей дополнительный кристаллизатор от основного. Стенки дополнительного кристаллизатора смонтированы на поверхности наплавляемой заготовки, образующей дно упомянутой емкости. 2 с. п. ф-лы, 2 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента