|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА МИКРОПРОВОЛОКИ ДЛЯ ВЫВОДОВ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ |  |
Номер публикации патента: 1783674 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | B21B037/16 | | Аналоги изобретения: | Цибизов Ф.С. и др. О некоторых свойствах и термической обработке золотой проволоки микроэлектронных диаметров. - Электронная техника, сер.8. Управление качества и стандартизации, 1974, вып.4, с.95-99. |
| Имя заявителя: | Производственное объединение "Альфа" им.60-летия СССР | | Изобретатели: | Юкшинская Л.А. | | Патентообладатели: | Акционерное общество "Альфа" |
Реферат | |
Способ может быть использован для изготовления изделий микроэлектроники. От каждой серии катушек исходной микропроволоки отбирают образцы. На отобранной от первой катушки микропроволоке определяют усилие разрыва, по которым устанавливают режим отжига. Проводят отжиг всей микропроволоки первой катушки. От отожженной проволоки отбирают образцы и определяют усилие разрыва. На отобранных от второй и последующих катушек проволоки определяют разброс легирующих элементов по длине. Проводят отжиг второй и последующих катушек. Отбирают образцы отожженной проволоки от второй катушки и определяют на каждом разброс легирующих элементов по длине. Оценивают изменение неоднородности распределения легирующей добавки по длине микропроволоки до и после отжига и по неизменности неоднородности судят о пригодности микропроволоки как материала для выводов изделий электронной техники. 3 табл.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента