РУДСКОЙ А.И. и др. Теории и технология прокатного производства. Учебн. пособие. - С.-Пб.: Наука, 2008, с.403-408. RU 2353441 С2, 27.04.2009. SU 1639817 A1, 07.04.1991. SU 1616721 A1, 30.12.1990. JP 2089516 A, 29.03.1990.
Имя заявителя:
Открытое акционерное общество "Северсталь" (ОАО "Северсталь") (RU)
Изобретатели:
Погожев Александр Владимирович (RU) Скорохватов Николай Борисович (RU) Немтинов Александр Анатольевич (RU) Емельянов Александр Матвеевич (RU) Иванников Анатолий Анатольевич (RU) Махов Геннадий Александрович (RU) Тихонов Сергей Михайлович (RU)
Патентообладатели:
Открытое акционерное общество "Северсталь" (ОАО "Северсталь") (RU)
Реферат
Изобретение предназначено для уменьшения объема беззаказной продукции по цеху, снижения расходного коэффициента и сокращения объема трудоемких транспортно-складских операций при листовой прокатке на реверсивном толстолистовом стане. Способ включает нагрев непрерывнолитых заготовок, их черновую и чистовую прокатку на реверсивном толстолистовом стане, с возможностью подстуживания промежуточной заготовки и ускоренного охлаждения полученного штрипса, отбор проб, изготовление образцов и испытание механических свойств, аттестацию продукции и ее отгрузку. Возможность мобильной корректировки технологии, снижение расхода металла на образцы обеспечивается за счет того, что в каждой партии проката, формируемой из одной плавки и содержащей до 30 непрерывнолитых заготовок, изготавливают несколько контрольных заготовок, с учетом припуска на отбор проб от готового штрипса, их первую половину прокатывают по заданной технологии, определяют механические свойства полученных штрипсов, при положительных результатах проверки серийную прокатку всех остальных заготовок партии осуществляют с теми же параметрами. Допустимая величина отклонения температурных параметров серийной прокатки от значений пробной прокатки регламентируется, в случае несоответствия механических свойств контрольных штрипсов требуемым значениям вторую половину контрольных заготовок прокатывают с корректировкой технологических параметров. 1 табл.
Поиск патентов
Получить полное описание патента