WO 2006161391 A2, 15.06.2006. US 6436485 B1, 20.08.2002. US 2004/0253373 A1, 16.12.2004. US 20050095353 A1, 05.05.2005. SU 1713669 A1, 23.02.1992.
Имя заявителя:
ТГС ТЕХНОЛОГИ БЕТАЙЛИГУНГСГЕЗЕЛЛЬШАФТ МБХ (DE)
Изобретатели:
БРЕНДЕЛ Герхард (DE) УЛЛЕРИХ Карл-Хейнц (DE)
Патентообладатели:
ТГС ТЕХНОЛОГИ БЕТАЙЛИГУНГСГЕЗЕЛЛЬШАФТ МБХ (DE)
Приоритетные данные:
11.07.2006 DE 102006032111.1
Реферат
Изобретение относится к излучающему устройству, предназначенному для облучения деревянных поверхностей, преимущественно, имеющих форму панели или диска. В особенности это относится к объектам с волокном средней плотности (MDF) во время нанесения на них порошкового покрытия. Излучающее устройство для облучения поверхностей, преимущественно, движущихся через нагревательное устройство, дополнительно содержит блок управления и по меньшей мере один бесконтактный датчик для измерения температуры. Датчик способен измерять температуру облученного объекта по меньшей мере в одной зоне облученной поверхности объекта. Блок и датчик (датчики) сформированы так, что блок управления способен регистрировать температуру, измеренную датчиком, и управлять по меньшей мере одним излучателем энергии, который выделен для зоны облучаемой поверхности, температура которой подлежит измерению. Поверхность, подлежащая облучению, разделена на множество воображаемых зон, с каждой из которых ассоциированы один или более датчиков температуры. Излучающее устройство может содержать несколько излучателей энергии, распределенных поперек облучаемой поверхности. В качестве излучателей предпочтительны излучатели тепла, в особенности инфракрасные излучатели или излучатели в ближней инфракрасной области, установленные с возможностью перемещения по меньшей мере на одном, предпочтительно, подвижном носителе. В способе нанесения порошкового покрытия содержание влаги в деревянных объектах, подлежащих обработке, доводят до 7-7,8 мас.% воды. Установка выполнена с возможностью осуществления способа. Техническим результатом изобретения является получение надежной информации о температуре по всей поверхности облучения. 4 н. и 19 з.п. ф-лы, 6 ил.