US 4735779 A, 05.04.1988. US 6635224 В1, 21.10.2003. GB 2170909 А, 13.08.1986. US 5944991 А, 31.08.1999. RU 2160433 C2, 10.12.2000.
Имя заявителя:
АКЦО НОБЕЛЬ КОАТИНГС ИНТЕРНЭШНЛ БВ (NL)
Изобретатели:
ЛУНДБЕРГ Джонни (SE)
Патентообладатели:
АКЦО НОБЕЛЬ КОАТИНГС ИНТЕРНЭШНЛ БВ (NL)
Приоритетные данные:
12.10.2004 EP 04445109.4
Реферат
Изобретение относится к способу измерения совокупности технологических параметров химического процесса, осуществляемого в химическом реакторе. Способ определения, по меньшей мере, одного технологического параметра химического процесса, осуществляемого в реакторе 2, включает пропускание образца технологической среды указанного химического процесса в боковой контур (20, 22, 24, 26, 34, 40, 42, 36) и изоляцию указанного образца от остающейся технологической среды в указанном реакторе; циркуляцию указанного образца в указанном боковом контуре и его температурной обработку там до требуемой температуры; выполнение измерения, по меньшей мере, одного технологического параметра указанного образца, выбранного из вязкости, рН, проводимости, мутности, и/или выполнение спектрометрических измерений с предоставлением спектрометрических данных при требуемой температуре; управление химическим процессом на основе определенного, по меньшей мере, одного технологического параметра. Способ реализован в системе, включающей выход 18 и вход 28; боковой контур (20, 22, 24, 26, 34, 40, 42, 36), связанный с реактором 2 через выход 18 и вход 28, дающие возможность прохождения образца технологической среды от указанного реактора 2 к указанному боковому контуру и обратно в указанный реактор; устройство 30 для циркуляции указанного образца; клапаны V1, V2, V4, V5 для изоляции указанного образца в указанном боковом контуре от остающейся технологической среды в указанном реакторе 2; устройство для температурной обработки 46, 50, 52, V7 указанного образца в указанном боковом контуре до требуемой температуры и устройство для измерения 38, по меньшей мере, одного технологического параметра, выбранного из вязкости, рН, проводимости, мутности; и/или средства для измерения спектрометрических данных при требуемой температуре в указанном боковом контуре и средство для управления химическим процессом на основе измеренных технологических параметров. Изобретение позволяет осуществлять большое количество измерений различных технологических параметров, точные измерения при температурах, отличных от температуры реактора, быстрое переключение между измерениями, проводимыми в режимах ин-лайн и он-лайн, а также обеспечивает защиту от засорения оборудования, входящего в систему. 3 н. и 15 з.п. ф-лы, 3 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента