|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| ГЕН MTS, МУТАЦИИ ДАННОГО ГЕНА И СПОСОБЫ ДИАГНОСТИКИ ЗЛОКАЧЕСТВЕННЫХ ОПУХОЛЕЙ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНОСТИ ГЕНА MTS |  |
Номер публикации патента: 2164419 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | A61K048/00 C07K014/435 | | Аналоги изобретения: | WO А 92/00757, 23.01.92. Lewin Oncogenic conversion by regolatory chenges ....Cell. - 1992, p. 303-342. Adams et al. Transgenic model of tumor development. Science. - 1991, 254, 1161-1167. |
| Имя заявителя: | МИРИАД ДЖЕНЕТИКС, ИНК. (US) | | Изобретатели: | КЭМБ Александр (US) | | Патентообладатели: | МИРИАД ДЖЕНЕТИКС, ИНК. (US) | | Номер конвенционной заявки: | 214 581 | | Страна приоритета: | US | | Патентный поверенный: | Дементьев Владимир Николаевич |
Реферат | |
Изобретение относится к области медицины, а именно к соматическим мутациям в гене многофункционального опухолевого супрессора (MTS) в случае неоплазий человека и использованию этих мутаций для диагностики и прогнозирования онкологических заболеваний. Изобретение также относится к мутациям гена MTS в зародышевой линии и использованию данных мутаций для диагностики предрасположенности к таким формам рака, как меланома, окулярная меланома, лейкоз, астроцитома, глиобластома, лимфома, глиома, лимфома Ходжкина, множественная миелома, саркома, миосаркома, хлоангиосаркома, чешуеклеточная карцинома, хронический лимфоидный лимфолейкоз (CLL), а также опухоли поджелудочной железы, яичников, матки, семенников, почек, желудка, ободочной и прямой кишки. Изобретение также имеет отношение к терапии тех неоплазий человека, при которых произошла мутация в гене MTS, включая генотерапию, заменяющую белковую терапию и использование миметиков. Техническим результатом изобретения является расширение арсенала средств диагностики и терапии опухолей. 14 с. и 39 з.п. ф-лы, 17 ил., 9 табл.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента