Диагностика стопы. Определение индекса свода стопы (по М.Ф.Фридланду). [ON-LINE], 02.11.2007, [найдено 15.10.2009], http://club-edu.tambov.ru/vjpusk/vip 142/rabot/07/diagnostika.htm.. RU 2290077 C2, 27.12.2006. US 6293026 B1, 25.09.2001. ALLEN M.K. et al. Metrecom Measurement of Navicular Drop in Subjects with Anterior Cruciate Ligament Injury JAthl Train. 2000 Oct; 35(4): 403-406. RU 38571 U1, 10.07.2004. SU 1219051 A, 23.03.1986. US 4534365 A, 13.08.1985. US 2006/0227337 A1, 12.10.2006.
Имя заявителя:
Учреждение Российской академии медицинских наук Научный центр здоровья детей РАМН (RU)
Изобретатели:
Кучма Владислав Ремирович (RU) Крымский Евгений Федорович (RU) Храмцов Петр Иванович (RU)
Патентообладатели:
Учреждение Российской академии медицинских наук Научный центр здоровья детей РАМН (RU)
Реферат
Изобретение относится к медицине и может быть применимо для диагностики плоскостопия у детей и подростков. Определяют высоту и длину свода стопы с помощью устройства, позволяющего количественно регистрировать высоту вершины нижне-внутреннего края ладьевидной кости и расстояние между центрами максимально-нагружаемых областей головки первой плюсневой кости и пяточной кости. Вычисляют отношение высоты к длине свода стопы (К). При К=0,43-0,55 свод стопы считают нормальным, при К=0,56-0,84 диагностируют плоскостопие 1 ст., при К=0,85-2,1 плоскостопие 2 ст., при К=2,2 и более диагностируют плоскостопие 3 ст. Устройство для диагностики плоскостопия у детей и подростков содержит подоскоп с верхней стеклянной плоскостью и зеркалом, две параллельные свободно перемещаемые по направляющим линейки со шкалой, крепящиеся под верхней стеклянной плоскостью подоскопа, для регистрации расстояния между отражаемыми на зеркале центрами максимально-нагружаемых областей головки первой плюсневой кости и пяточной кости, и вертикальный щуп со шкалой, расположенный в центре верхней поверхности подоскопа для регистрации высоты вершины нижне-внутреннего края ладьевидной кости. Изобретение позволяет увеличить достоверность диагностики. 2 н.п.ф-лы, 2 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента