BY 2491 U, 28.02.2006. RU 2234242 C2, 20.08.2004. RU 2003125910 A, 10.03.2005. US 6456862, 24.09.2002. САВВАТЕЕВА Е.В. и др. Лазерная оптоакустическая спектроскопия биотканей. Сборник трудов ИПЛИТ РАН, 2005, с.183-187. РУСИНА Т.В. и др. Измерение ослабления излучения гелиево-неонового лазера в тканях головного мозга. Бюл. Украинской ассоциациинейрохирургов. - Киев, 1998, вып.7, [он лайн] [Найдено 2009.01.13] найдено в Интернет http://www.intermag.kiev.ua/uan/bulet/num7/12.html.
Имя заявителя:
Государственное научное учреждение "Институт физики имени Б.И.Степанова Национальной академии наук Беларуси" (BY)
Изобретатели:
Чивель Юрий Александрович (BY)
Патентообладатели:
Государственное научное учреждение "Институт физики имени Б.И.Степанова Национальной академии наук Беларуси" (BY)
Реферат
Группа изобретений относится к медицине и предназначена для определения оптических характеристик и уровня оксигенации тканей серого вещества головного мозга. На нескольких длинах волн раздельно регистрируют излучение, обратнорассеянное тканью серого вещества головного мозга, и прошедшее через него лазерное излучение, обратнорассеянное тканью белого вещества. Из их отношения определяют показатель поглощения ткани серого вещества на нескольких длинах волн и уровень ее оксигенации. Устройство содержит оптически связанные пикосекундный лазер, световод-источник зондирующего излучения, световод-приемник рассеянного излучения, детектор в виде фотоэлектронного умножителя на основе микроканальной пластинки, электрически связанной с генератором затворного импульса, и устройство обработки информации, включающее строб-интегратор с окном стробирования 100 пс. Устройство обработки информации дополнено строб-интегратором с окном стробирования 1000 пс. Строб-интегратор с окном стробирования 100 пс подключен с задержкой строба на 100 пс относительно строб-интегратора с окном стробирования 100 пс. Предлагаемые способ и устройство позволяют разделить сигналы рассеяния от различных тканей головного мозга и увеличить точность определения их оптических характеристик. 2 н.п. ф-лы, 1 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента