Группа изобретений относится к хлебопекарной промышленности. Первым объектом изобретения является способ приготовления замороженной полуфабрикатной тестовой заготовки для получения хлебопекарного изделия путем окончательного выпекания замороженной полуфабрикатной тестовой заготовки в печи при температуре в печи от 200°С до 260°С в течение времени меньшего или равного 5 мин. Способ включает получение сформированной, выброженной и готовой к выпечке тестовой заготовки, соответствующей хлебопекарному изделию. Затем проводят предварительную тепловую обработку при температуре в печи от 220°С до 260°С тестовой заготовки до момента, когда ее мякиш коагулируется и происходит образование и зарумянивание ее корки. Замораживают полученную таким образом полуфабрикатную тестовую заготовку. Тестовую заготовку готовят из муки зерновых культур, дрожжей, воды, одного или более сахаров, участвующих в реакциях типа реакций Майара, и/или одного или более белков, участвующих в реакциях типа реакции Майара, и пищевой клетчатки и/или пищевого стабилизатора. Кроме того, изобретение предусматривает замороженную полуфабрикатную заготовку, которая является вторым объектом изобретения. Третьим объектом изобретения является способ получения выпеченного хлебопекарного изделия, включающий окончательное выпекание замороженной полуфабрикатной тестовой заготовки, путем помещения ее в печь в течение времени меньшего или равного 5 мин при температуре в печи от 200°С до 260°С. Четвертым объектом изобретения является применение одного или более сахаров, участвующих в реакциях типа реакций Майяра, или ферментов, производящих такие сахара в тесте, и/или одного или более белков, участвующих в реакциях типа реакций Майяра, или ферментов, производящих такие белки в тесте, и пищевой клетчатки и/или пищевого стабилизатора для приготовления замороженной полуфабрикатной тестовой заготовки. В результате этого можно быстро получить свежевыпеченные хлебопекарные изделия, в частности, путем выпекания изделий в печи в течение 5 мин и меньше. 4 н. и 20 з.п. ф-лы, 8 табл.
Поиск патентов
Получить полное описание патента