|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ИСПЫТАНИЙ НА НАДЕЖНОСТЬ ИЗДЕЛИЙ ЭЛЕКТРОННОЙ ТЕХНИКИ |  |
Номер публикации патента: 2100817 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01R031/08 | | Аналоги изобретения: | Патент США N 4816753, кл. G 01 R 31/26, 1989. |
| Имя заявителя: | Российский научно-исследовательский институт "Электронстандарт" | | Изобретатели: | Воронцов Б.А.
Куликов И.В. | | Патентообладатели: | Российский научно-исследовательский институт "Электронстандарт" |
Реферат | |
Использование: в области испытаний изделий электронной техники, применяемых в аппаратуре с длительными сроками эксплуатации. Сущность изобретения: первую группу изделий подвергают сначала воздействий электрических нагрузок, затем вторую и первую группу изделий подвергают воздействию ионизирующего излучения, измеряют заданные параметры изделий обеих групп, по которым судят о результатах испытаний. Дозу ионизирующего излучения для изделий обеих групп устанавливают предельно допустимой, неразрушающей для данного вида изделий, а электрические нагрузки для изделий первой группы устанавливают в пределах заданных эксплуатационных условий, рассчитывают среднестатическое значение заданных параметров изделий в каждой группе, по результатам сравнения которых судят о результатах испытаний. Способ повышает достоверность результатов испытаний, т. к. позволяет выяснить: приводят или нет традиционные испытания на надежность путем воздействия электрических нагрузок на испытуемые изделия к возникновению в них скрытых дефектов. 1 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента