|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ИСПЫТАНИЙ ЦИФРОВЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ |  |
Номер публикации патента: 1385806 |  |
| Редакция МПК: | 5 | | Основные коды МПК: | G01R031/28 | | Аналоги изобретения: | Карташов Г.Д. Основа теории форсированных испытаний. М.: Знания, 1977, с.52. |
| Имя заявителя: | | | Изобретатели: | Хмарцев В.С.
Юсупов В.Т |
Реферат | |
Изобретение может быть использовано для форсированного и ускоренного испытания цифровых интегральных микросхем (М) на надежность. Цель изобретения - повышение величины форсированной нагрузки и ее однородности. Для этого осуществляется одновременное введение всех элементов М в динамический режим работы на переходном участке выходной переключательной характеристики на частотах, на которых отсутствует формирование логических сигналов внутри и на выходах М. При этом на входы М подают электрическое смещение и переменные сигналы. Амплитуды последних - в пределах переходного участка входной переключательной характеристики при различных сочетаниях фазы переменных сигналов. Частота поддерживается таковой, что амплитуды соответствующих переменных сигналов на выходах М остаются в пределах переходного участка ее переключательной характеристики. 1 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента