Folgero K. Broad-band dielectric spectroscopy of low-permittivity fluids using one measurement cell // IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement. 1998. Vol.47. No.4. P.881-885. JP 5157784 A, 25.06.1993. JP 2006071546 A, 16.03.2006. US 2007085552 A1, 19.04.2007. US 2008007274 A1, 10.01.2008. RU 2231078 C1, 20.06.2004. RU 2046351 C1, 20.10.1995. SU 1661676 A1, 07.07.1991.
Имя заявителя:
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Омский государственный педагогический университет" (ОмГПУ) (RU)
Изобретатели:
Бобров Павел Петрович (RU) Репин Андрей Владимирович (RU) Кондратьева Ольга Васильевна (RU)
Патентообладатели:
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Омский государственный педагогический университет" (ОмГПУ) (RU)
Реферат
Изобретение относится к области измерительной техники, в частности может быть использовано в спектроскопии диэлектриков для исследования диэлектрических характеристик веществ, знание которых необходимо при дистанционном электромагнитном зондировании, диэлектрическом каротаже, изучении молекулярного строения вещества. В способе измерения комплексной диэлектрической проницаемости (КДП) жидких и сыпучих тел в широком диапазоне частот в одной ячейке, заполненной исследуемым веществом, используемой в диапазоне частот 100-4000 МГц как отрезок коаксиальной линии, а в диапазоне частот 1 кГц-1 МГц как цилиндрический конденсатор, при этом в диапазоне частот 100-4000 МГц комплексная диэлектрическая проницаемость вычисляется через измеренные значения комплексного коэффициента передачи электромагнитной волны, а в диапазоне частот 100 Гц-1 МГц - через измерение полной проводимости, новым является то, что предварительно перед измерением КДП пустую ячейку помещают в дополнительный отрезок коаксиальной линии (фиг.1), внутренний диаметр внешнего проводника которой определяют по формуле , где d - внешний диаметр корпуса ячейки; Z01 - волновое сопротивление дополнительного отрезка коаксиальной линии, в которой размещена ячейка, при этом ячейку включают как цилиндрический конденсатор в разрыв внутреннего проводника дополнительного отрезка коаксиальной линии, закороченной на выходе и производят его калибровку, для чего определяют параметры эквивалентной электрической схемы дополнительного отрезка коаксиальной линии с расположенной в ней пустой ячейкой, затем заполняют ячейку исследуемым веществом и в диапазоне частот 1 МГц-100 МГц определяют КДП по формулам, связывающим S11 с параметрами эквивалентной схемы. Данный способ измерения КДП обеспечивает ее измерение в одной ячейке с низкой погрешностью во всем частотном диапазоне (1 кГц-6000 МГц). 5 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента