На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КОНТАКТНОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ | |
Номер публикации патента: 2334238 | |
Редакция МПК: | 7 | Основные коды МПК: | G01R027/00 | Аналоги изобретения: | US 2005127926 A1, 16.06.2005. US 5585734 A1, 17.12.1996. US 6313656 A1, 06.11.2001. SU 1822972 A1, 23.06.1993. |
Имя заявителя: | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Московский физико-технический институт (государственный университет) (МФТИ) (RU) | Изобретатели: | Батурин Андрей Сергеевич (RU) Любовин Николай Юрьевич (RU) Спиридонов Максим Викторович (RU) Шешин Евгений Павлович (RU) | Патентообладатели: | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Московский физико-технический институт (государственный университет) (МФТИ) (RU) |
Реферат | |
Изобретение относится к способам измерения электрических величин. Данный способ заключается в том, что через проводящий зонд атомно-силового микроскопа, который прижат с постоянной силой к поверхности исследуемого образца, пропускают электрический ток. Среднюю величину электрического тока поддерживают постоянной, посредством изменения постоянной составляющей напряжения, приложенного между зондом и образцом.
|